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pcba常見測試方法優(yōu)缺點分析比較

發(fā)布日期:2024-07-24 14:27 瀏覽次數(shù):

pcba常見測試方法優(yōu)缺點分析比較


pcba測試的目的是提升產(chǎn)品的可靠性,降低產(chǎn)品出廠不良率,提升整體的產(chǎn)品品質(zhì),提高產(chǎn)品的質(zhì)量。

pcba測試有多種方法,不同測試方法不盡相同,目的也不同,需要什么樣的測試,需要根據(jù)客戶的要求來做。


1)AOI測試

AOI測試在smt貼片焊接完的工藝,AOI是一種自動光學(xué)檢測設(shè)備,借助光學(xué)、圖像處理技術(shù),對焊接點進行圖像采集,然后再進行比對,看看是否會有不良,常見的AOI檢測缺陷包含短路,少錫、錫球、立碑等等


2)X-ray測試

x射線檢測,也是在smt環(huán)節(jié),主要檢查BGA焊球的焊接品質(zhì),因為BGA焊點在其底部,AOI無法透視檢測,X-ray則可以通過x射線透視檢測BGA底部內(nèi)部的隱蔽缺陷


上述兩種是其加工階段的測試方法,檢查加工品質(zhì),下面所述則是對其性能功能的測試


1)ICT測試

在電路板上進行的功能性測試,通過插針或測試夾具,測量電路的電氣特性,檢查電阻、電容、電感等元件的值是否在正常范圍內(nèi),這是簡單高效的測試方法,但并不是全功能測試方法


2)FCT測試

對整個功能進行的全面測試,在FCT測試前,需要對PCBA進行程序燒錄,發(fā)現(xiàn)可能存在的硬件和軟件問題,驗證在實際工作條件下的功能是否完善


3)飛針測試

使用臨時的探針測量信號,這種測試方法適用于快速原型制作和小批量生產(chǎn),這種只是對某一方面的功能進行測試





問題缺陷

AOI

ICT

FCT

墓碑

V

V

V

缺件

V

V

V
(By pass電路不一定測出來)

位移

V

?
(如果位移沒有超出焊點測不來)

?
(如果位移沒有超出焊點測不來)

錫橋

V

V

V
(By pass電路不一定測出來)

空焊 

V

?
(大部分測不出來)

?
(大部分測不出來)

假焊

?
(大部分測不出來)

?
(大部分測不出來)

?
(大部分測不出來)

冷焊 

?
(大部分測不出來)

?
(大部分測不出來)

?
(大部分測不出來)

短路 

V

V

V
(By pass電路不一定測出來)

極性反

V
(外觀一樣的零件測不出)

V

V
(By pass電路不一定測出來)

BGA IC 焊錫效果

X

V

V

QFN IC 焊錫效果

X

V

V

上圖是AOI  ICT FCT測試的優(yōu)缺點分析表


以上三種是對pcba電路、信號、功能模塊的測試方法,下面講述的是pcba模擬使用環(huán)境下的測試

1)環(huán)境測試

進行溫度循環(huán)、濕度、振動、跌落、鹽霧腐蝕等環(huán)境測試,檢驗電路板在不同條件下的穩(wěn)定性和可靠性

2)ESD測試

對電路板抗靜電放電能力的測試,確保電路板在操作和維護過程中不會因靜電而受損,保障其長期穩(wěn)定運行


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